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线轮廓度

线轮廓度限制指定平面(相交平面)内的线轮廓相对理论轮廓的法向偏差。无基准时偏形状;有基准时带锁在 DRF 中,功能接近方向/位置类轮廓。

整张表面用 面轮廓度;线轮廓只约束指定截面线,不能自动代表整面合格。

要点

公差带

理论轮廓由 CAD 或 理论尺寸 定义。公差带为沿理论轮廓的法向等距带(或 不等公差 单侧分配),在相交平面内评定该截面线。

有无基准

标注 含义(摘要)
无基准 形状类;带相对理论轮廓的浮动规则按标准版本——有疑义时加基准钉死
有基准 理论轮廓相对 DRF 固定

ISO 与 ASME 对「无基准轮廓度是否可整体平移/旋转贴合」的细则随年版变化;写图宁可用基准把意图写死。

flowchart LR
  line[截面线] --> band[沿理论轮廓的等距带]
  dat[基准] -.->|有则锁定| band

图样标注

  • 框格:线轮廓度符号(⌒)+ t + 可选基准 + 可选 Ⓤ。
  • 截面:用 相交平面 等指示;位置明确。
  • 理论轮廓必须唯一,见 关键要素。
  • 禁止与同一几何的冲突 ± 尺寸并存。
  • 未注:自由曲面无可靠未注线轮廓。

ISO GPS / GB

标准 作用
ISO 1101 / GB/T 1182 轮廓度带与标注
ISO 1660 轮廓相关(核年代)

按有无基准落在形状或方向/位置相关行。默认与尺寸独立。

ASME Y14.5

Profile of a line。常与面轮廓成对:线用于指定截面抽检,面用于全部。基本尺寸或模型定义理论。

差异对照

项目 ISO GPS / GB ASME Y14.5
有无基准 改变约束 同
抽检 指定截面 同;常配面轮廓
检测 截面扫描、光学 同

加工与误用

例 1。 凸轮只标线轮廓 0.1,无基准、无截面位置。检验自选三截面;装配相位由槽宽卡死。应给出旋转中心等基准与截面位置。

例 2。 只测一条线声称整面轮廓合格。

常见误用:忘记相交平面;理论与 ± 重复;无基准却按有基准程序锁 DRF。

检测要点

  1. 按指定截面提取线;与理论比法向偏差。
  2. 无基准:形状检测 类程序并写明浮动规则;有基准:位置检测。
  3. 光学:光学测头 / 光学三维。

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面轮廓度 理论尺寸 相交平面 不等公差