触针仪器¶
触针仪器规定：用机械针尖扫描轮廓来实现表面结构测量。针尖半径、测力、导头、速度都进入规范实现，不是「仪表显示 Ra」四个字。
与形位用的扫描测头边界：硬件有时相似，滤波、关联、评定量完全按表面标准走，不能拿形状仪程序报 Ra。
要点¶
针尖即形态滤波¶
针尖进不了比针尖更窄的谷；测得轮廓是真实轮廓与针尖几何的卷积结果。ISO 3274 / 21920 仪器条款规定默认针尖半径；极细表面必须核对针尖是否够小。
| 因素 | 不控制的后果 |
|---|---|
| 针尖半径过大 / 已磨秃 | 谷测浅，Ra、Rz 偏小 |
| 测力过大（软材） | 划伤，假峰谷，Ra 偏大 |
| 导头式滑套 | 再滤一层长波，与无导头不可直接比 |
| 速度过高 | 动态误差、漏细节 |
光学轮廓仪与触针原理不同；对偶比较必须评估系统差，不能只比数字。
flowchart LR
tip[针尖] --> conv[与表面卷积]
conv --> profile[测得轮廓]
profile --> fil[规范滤波]
fil --> param[Ra 等参数]图样标注¶
- 默认罕写针尖。
- 仲裁、镀层、极细纹理：写针尖半径（及需要的测力）。
- 未写：按该年代表面标准默认；程序仍须记下实际针尖与校准片。
ISO GPS / GB¶
| 标准 | 作用 |
|---|---|
| ISO 3274 | 触针仪器特性 |
| ISO 21920 | 轮廓参数与仪器要求引用 |
| ISO 12179 | 表面测量仪器校准 |
| GB | 对应采用 |
ASME / B46.1¶
B46.1 触针默认半径与截止序列可能与 ISO 不同。精密件转图或双体系供货：针尖与截止写死，不要「两边各用习惯默认」。
差异对照¶
| 项目 | ISO GPS / GB | ASME / B46.1 |
|---|---|---|
| 默认针尖 | 标准规定值 | 核 B46.1 年代 |
| 导头 | 可选，须声明 | 同 |
| 校准 | 12179 一类 | B46.1 / 企业规程 |
| 检测 | 针尖磨损必检 | 同 |
加工与误用¶
例 1。 软铝大测力，针划出槽，Ra 升。应降力、换更适合的针，或改光学并评估差。
例 2。 针已磨秃，谷全测浅，批合格；换新针后大面积超差。针尖检查周期必须进计量。
常见误用：用形状仪触针当粗糙度仪且滤波按平面度走；标准片只校「通电」不校针尖；光学与触针数值直接判同一规范。
检测要点¶
- 针尖目视/专用尖端检查；超差换针。
- 标准片、行程、λc、评定长度与图一致。
- 导头有无写入报告。
- 校准见 校准规范。