分割提取¶
提取规定：把分割后的连续表面变成有限点、线或数字表面。采样密度、路径策略、测头半径补偿都属于提取。提取太疏或补偿反了，等于换了一张皮再往下评。
提取 ≠ 滤波（先有点再滤）；提取 ≠ 评定（点集还不是偏差值）。
要点¶
密度与对象¶
| 对象 | 过疏的后果 | 思路 |
|---|---|---|
| 圆度 | 奇数棱圆看不见 | 圆度仪密采样或 CMM 密点截面 |
| 平面度 | 漏局部凸起 | 网格或扫描 |
| 默认 LP | 未覆盖「相关局部」 | 多截面、多方位 |
| 表面粗糙度 | 轨迹太短/太疏 | 按 21920 取样长度 |
测头半径补偿是提取的一部分：内孔补偿方向反了，孔径系统偏小（或偏大），后面尺寸、位置全偏。
flowchart LR
region[分割区域] --> sample[采样]
sample --> comp[测头补偿]
comp --> set[提取要素]图样标注¶
- 默认通常不写点距。
- 精密件可写扫描螺距、点距、截面数。
- 未写：按该特性测量标准或企业程序，但程序必须声明，不能口头「软件默认」。
ISO GPS / GB¶
ISO 17450-2；形状测量 ISO 12780/12781/12181/12180 等给出提取思路。ISO 10360 是 CMM 验收，不替代提取策略。表面结构提取另见 触针仪器、ISO 21920。
ASME Y14.5¶
图样不规定点距。企业程序或 B89 规定。仲裁前供需须约定提取，否则「测了」不可比。
差异对照¶
| 项目 | ISO GPS / GB | ASME Y14.5 |
|---|---|---|
| 默认 | 各测量标准 | 程序默认 |
| 补偿 | 属提取，须声明 | 同 |
| 检测 | 密度进入 U | 同 |
加工与误用¶
例 1。 圆度用 8 点均布。三棱圆几乎看不见。应提高密度或改圆度仪。
例 2。 内孔测头补偿当外圆补，孔径差一个测头直径量级。内/外、补偿开关必须与要素一致。
常见误用：扫描螺距大于要抓的形状波长；用触针粗糙度轨迹当平面度提取。